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S916介質損耗測試裝置與本公司生產的各款WGJSTD系列介質損耗及介電常數(shù)測試儀配套,可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質損耗系數(shù)(損耗角正切值)。S916介質損耗測試裝置是S914的換代產品,它采用了數(shù)顯微測量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據。
測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。S916介質損耗測試裝置須配用WGJSTD系列儀器作為調諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的品質因數(shù)值即Q值的變化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。
技術特性
1. 平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm